ACS AMI:通过级联空穴传输层增强QLED的稳定性
TanK
2020-03-30
量子点显示技术在显示方面的应用价值受到大家的普遍关注。近日，滑铁卢大学Tyler Davidson-Hall等人研究了空穴传输层（HTL）对电致发光量子点发光器件（QLED）稳定性的影响。
本文要点：
1）通过利用级联HTL（CHTL）结构并在HOMO能级上连续进行，QLED的电致发光半衰期（T50）可提高25倍。基于该策略，使用常规的核/壳QD红色QLED的T50为864,000 h（初始亮度为100 cd m–2）。
2）研究发现，CHTL通过将过多的空穴积累从QD / HTL界面移向层间HTL / HTL界面；而从QD层泄漏的电子在CHTL中较宽的电子-空穴复合区可减少QD / HTL界面处的HTL降解。这项工作突显了HTL对QLED稳定性的重大影响，并且是常规核/壳QD结构QLED的最长T50。
Tyler Davidson-Hall, et al. Significant Enhancement in Quantum Dot Light-Emitting Device Stability via a Cascading Hole Transport Layer. ACS AMI 2020.
DOI:10.1021/acsami.9b23567
https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acsami.9b23567
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