Angew：揭示界面 LiH 演化引发的 Ge 阳极容量退化

Nanoyu

2023-06-08

锗(Ge)作为一种快速充电和高比容量(1568mAhg−1)合金负极，由于循环性能差，在实际应用中受到很大阻碍。迄今为止，对循环性能下降的理解仍然难以捉摸。

近日，中科院青岛能源所崔光磊研究员，Shanmu Dong报道，与传统观点相反，失效阳极中的大部分锗材料仍然保持良好的完整性，并且没有发生严重的粉碎。结果表明，容量退化与氢化锂(LiH)的界面演变明显相关。

文章要点

1）四氢化锗锂(Li₄Ge₂H)作为衍生自LiH的新物种，被确定为Ge阳极降解的罪魁祸首，Ge阳极降解是不断生长和绝缘界面中的主要结晶成分。

2）SEI厚度的显着增加伴随着循环时绝缘Li₄Ge₂H的积累，这严重阻碍了电荷传输过程并最终引发阳极失效。

3）研究表明，全面了解本研究提出的失效机制，对于推动下一代锂离子电池合金负极的设计和开发具有重要意义。

参考文献

Guodong Chen, et al, Revealing Capacity Degradation of Ge Anode Triggered by  Interfacial LiH Evolution, Angew. Chem. Int. Ed. 2023, e202306141

DOI: 10.1002/anie.202306141

https://doi.org/10.1002/anie.202306141